Article Dans Une Revue
Zeitschrift für Kristallographie
Année : 2006
Martine Segear : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00087580
Soumis le : mardi 25 juillet 2006-15:31:18
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00087580 , version 1
- DOI : 10.1524/zksu.2006.suppl_23.123
Citer
Alexandre Boulle, René Guinebretière, A. Dauger. X-ray diffraction from epitaxial thin films : an analytical expression of the line profiles accounting for microstructure. Zeitschrift für Kristallographie, 2006, 23, pp.123-128. ⟨10.1524/zksu.2006.suppl_23.123⟩. ⟨hal-00087580⟩
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