Approche structurelle du diagnostic, application à un modèle de colonne à distiller
Résumé
Dans ce travail on considère le problème de détection et localisation de défauts pour une classe générale de systèmes linéaires dépendant de paramètres : les systèmes linéaires structurés. On présente de manière synthétique un certain nombre de résultats des auteurs sur le sujet qui sont illustrés sur un modèle de colonne à distiller binaire. A partir de l'analyse structurelle on peut facilement, sur ce procédé ayant un défaut et une perturbation, montrer qu'un capteur supplémentaire est nécessaire pour résoudre le problème de diagnostic considéré indépendemment de la valeur des paramètres du système. L'analyse du graphe associé au système permet de déterminer les variables que le capteur doit mesurer.