Structural characterization of CeO2-TiO2 and V2O5/CeO2-TiO2 catalysts by Raman and XPS techniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physical Chemistry B Année : 2003

Structural characterization of CeO2-TiO2 and V2O5/CeO2-TiO2 catalysts by Raman and XPS techniques

B.M. Reddy
  • Fonction : Auteur
A. Khan
  • Fonction : Auteur
Y. Yamada
  • Fonction : Auteur
T. Kobayashi
  • Fonction : Auteur
S. Loridant
Institut de recherches sur la catalyse
J.C. Volta
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Institut de recherches sur la catalyse

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https://hal.science/hal-00007311

Soumis le : lundi 11 juillet 2005-17:10:19

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:47

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Dates et versions

hal-00007311 , version 1 (11-07-2005)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00007311 , version 1

Citer

B.M. Reddy, A. Khan, Y. Yamada, T. Kobayashi, S. Loridant, et al.. Structural characterization of CeO2-TiO2 and V2O5/CeO2-TiO2 catalysts by Raman and XPS techniques. Journal of Physical Chemistry B, 2003, 107, pp.5162-5167. ⟨hal-00007311⟩

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