Surface characterization of CeO2/SiO2 and V2O5/CeO2/SiO2 catalysts by Raman, XPS and other techniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physical Chemistry B Année : 2002

Surface characterization of CeO2/SiO2 and V2O5/CeO2/SiO2 catalysts by Raman, XPS and other techniques

C.V. Reddy
  • Fonction : Auteur
A. Khan
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Y. Yamada
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T. Kobayashi
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S. Loridant
Institut de recherches sur la catalyse
J.C. Volta
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Institut de recherches sur la catalyse

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Soumis le : lundi 11 juillet 2005-17:09:34

Dernière modification le : vendredi 4 août 2023-15:20:52

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Dates et versions

hal-00007198 , version 1 (11-07-2005)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00007198 , version 1

Citer

C.V. Reddy, A. Khan, Y. Yamada, T. Kobayashi, S. Loridant, et al.. Surface characterization of CeO2/SiO2 and V2O5/CeO2/SiO2 catalysts by Raman, XPS and other techniques. Journal of Physical Chemistry B, 2002, 106, pp.10964-10972. ⟨hal-00007198⟩

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