Rte measurement with Xe$^{52+}$ ions channeled in a Si crystal - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physics Letters A Année : 1992

Rte measurement with Xe$^{52+}$ ions channeled in a Si crystal

M. Chevallier
C. Cohen
  • Fonction : Auteur
N. Cue
  • Fonction : Auteur
D. Dauvergne
J. Dural
  • Fonction : Auteur
Y. Girard
  • Fonction : Auteur
A. L'Hoir
  • Fonction : Auteur
Y. Quere
  • Fonction : Auteur
Didier Schmaus
  • Fonction : Auteur
M. Toulemonde
Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00013108 , version 1 (17-03-1999)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00013108 , version 1

Citer

S. Andriamonje, M. Chevallier, C. Cohen, N. Cue, D. Dauvergne, et al.. Rte measurement with Xe$^{52+}$ ions channeled in a Si crystal. Physics Letters A, 1992, 164, pp.184-190. ⟨in2p3-00013108⟩
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