Une nouvelle approche dans la compréhension de l'interaction SiC/Ti - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal de Physique IV Proceedings Année : 1999

Une nouvelle approche dans la compréhension de l'interaction SiC/Ti

Résumé

La morphologie de la zone de réaction du système SiC/Ti a été analysée par microscopie électronique à balayage. La composition des différents constituants a été déterminée par spectroscopie d'électrons Auger et par microsonde électronique. Les analyses montrent que la zone de réaction est constituée des trois composés Ti5Si3Cx, TiCx et Ti3Si. Le diagramme de phases du système Ti - Si - C a été complété à 900°C. Le suivi de l'évolution morphologique de la zone de réaction interfaciale en fonction du temps de recuit de diffusion à 900°C, a permis de déterminer la loi de croissance des particules de TiCx et de préciser les mécanismes en jeu dans l'interaction SiC/Ti.

Domaines

Matériaux

Dates et versions

hal-03670837 , version 1 (17-05-2022)

Identifiants

Citer

Stéphane Gorsse, Yann Le Petitcorps, Yves Garrabos. Une nouvelle approche dans la compréhension de l'interaction SiC/Ti. Journal de Physique IV Proceedings, 1999, 09 (PR4), pp.Pr4-241-Pr4-248. ⟨10.1051/jp4:1999432⟩. ⟨hal-03670837⟩

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CNRS ICMCB
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