Temperature-dependent thermal characterization of Ge 2 Sb 2 Te 5 and related interfaces by the photothermal radiometry technique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physics: Conference Series Année : 2010

Temperature-dependent thermal characterization of Ge 2 Sb 2 Te 5 and related interfaces by the photothermal radiometry technique

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

Vincent Schick  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02441616

Soumis le : mercredi 15 janvier 2020-23:10:16

Dernière modification le : lundi 15 avril 2024-18:20:02

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Dates et versions

hal-02441616 , version 1 (15-01-2020)

Identifiants

Citer

Jean-Luc Battaglia, Andrea Cappella, Enrico Varesi, Vincent Schick, Andrzej Kusiak, et al.. Temperature-dependent thermal characterization of Ge 2 Sb 2 Te 5 and related interfaces by the photothermal radiometry technique. Journal of Physics: Conference Series, 2010, 214, pp.012102. ⟨10.1088/1742-6596/214/1/012102⟩. ⟨hal-02441616⟩

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