Dynamic surface temperature measurements in ICs
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Proceedings of the IEEE
Année : 2006
Bernadette Bergeret : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01552902
Soumis le : lundi 3 juillet 2017-12:14:07
Dernière modification le : mardi 9 avril 2024-08:56:04
Citer
J. Altet, W. Claeys, S. Dilhaire, A. Rubio. Dynamic surface temperature measurements in ICs. Proceedings of the IEEE, 2006, 94 (8), pp.1519-1533. ⟨10.1109/jproc.2006.879793⟩. ⟨hal-01552902⟩
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