Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
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https://hal.science/hal-01550929
Soumis le : jeudi 29 juin 2017-18:07:00
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Citer
Guillaume Devès, T. Cohen-Bouhacina, R. Ortega. Scanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements. 17th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2003, Unknown, Unknown Region. pp.1733-1738, ⟨10.1016/j.sab.2004.04.015⟩. ⟨hal-01550929⟩
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