Nonlinearity measurements of thin films by third-harmonic-generation microscopy
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Physical Review E : Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics
Année : 2002
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https://hal.science/hal-01550820
Soumis le : jeudi 29 juin 2017-17:42:02
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Citer
R. Barille, L. Canioni, L. Sarger, G. Rivoire. Nonlinearity measurements of thin films by third-harmonic-generation microscopy. Physical Review E : Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics, 2002, 66 (6), ⟨10.1103/PhysRevE.66.067602⟩. ⟨hal-01550820⟩
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