Specific approach of generalized ellipsometry for the determination of weak in-plane anisotropy: application to Langmuir-Blodgett ultrathin films
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Journal of the Optical Society of America. A, Optics and image science
Année : 1998
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https://hal.science/hal-01550236
Soumis le : jeudi 29 juin 2017-14:35:25
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01550236 , version 1
Citer
B. Lecourt, D. Blaudez, J. M. Turlet. Specific approach of generalized ellipsometry for the determination of weak in-plane anisotropy: application to Langmuir-Blodgett ultrathin films. Journal of the Optical Society of America. A, Optics and image science, 1998, 15 (10), pp.2769-2782. ⟨hal-01550236⟩
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