Oscillation of the cantilever in atomic force microscopy: Probing the sample response at the microsecond scale
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 1997
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https://hal.science/hal-01550169
Soumis le : jeudi 29 juin 2017-13:56:47
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01550169 , version 1
Citer
T. Bouhacina, D. Michel, J. P. Aime, S. Gauthier. Oscillation of the cantilever in atomic force microscopy: Probing the sample response at the microsecond scale. Journal of Applied Physics, 1997, 82 (8), pp.3652-3660. ⟨hal-01550169⟩
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