Accelerated Life Testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2006

Accelerated Life Testing

Résumé

The properties of important class of reliability models are considered.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00465796 , version 1 (21-03-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00465796 , version 1

Citer

Mikhail Nikulin, Vilijandas Bagdonavicius. Accelerated Life Testing. Samual Kotz, N.Balakrishnan, C.Read, B.Vidakovic. Encyclopedia of Statistical Sciences, 16 volume set, 2nd Edition, v.1, John Wiley and Sons: New Jersey, pp.10-22, 2006. ⟨hal-00465796⟩

Collections

CNRS IMB
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