Theoretical and Experimental Study of the Substrate Effect on the Fully Depleted SOI MOSFET at Low Temperatures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal de Physique IV Proceedings Année : 1996

Theoretical and Experimental Study of the Substrate Effect on the Fully Depleted SOI MOSFET at Low Temperatures

M. Pavanello
  • Fonction : Auteur
J. Martino
  • Fonction : Auteur
J.-P. Colinge
  • Fonction : Auteur

Résumé

In this work is presented a theoretical and experimental analysis of the substrate potential drop and your influence on the fully depleted SOI MOSFET threshold voltage. This study is done at room temperature and at liquid nitrogen temperature. Good agreement was found between the simple model and experimental results.

Domaines

Articles anciens
Fichier principal
Vignette du fichier
ajp-jp4199606C310.pdf (204.11 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Accord explicite pour ce dépôt
Loading...

Dates et versions

jpa-00254228 , version 1 (04-02-2008)

Identifiants

Citer

M. Pavanello, J. Martino, J.-P. Colinge. Theoretical and Experimental Study of the Substrate Effect on the Fully Depleted SOI MOSFET at Low Temperatures. Journal de Physique IV Proceedings, 1996, 06 (C3), pp.C3-67-C3-72. ⟨10.1051/jp4:1996310⟩. ⟨jpa-00254228⟩

Collections

AJP
10 Consultations
57 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More