Réflectométrie appliquée aux interfaces diffuses : possibilités et limites de la technique

P. Schaaf , Ph. Dejardin , Anne Schmitt

La réflectivité d'interfaces diffuses correspondant à un profil d'indice de réfraction sigmoïdal est analysée, dans le but d'explorer les possibilités et les limites de la technique. Différentes méthodes de calcul des coefficients de réflectivité sont d'abord comparées, celle proposée par Abelès étant de validité la plus générale. Pour des ondes « s » et dans le cas de profils interfaciaux centrosymétriques, le coefficient de réflectivité est presque directement proportionnel au coefficient de réflectivité de Fresnel et à la transformée de Fourier de la dérivée du profil d'indice; cette approximation est très bonne dans la plupart des situations expérimentales rencontrées. Par contre, ce résultat n'est plus valable pour des profils dissymétriques. Nous montrons que l'étude conjointe de la réflectivité des ondes « s » et « p » en fonction de l'angle d'incidence permet, en principe, la détermination d'une épaisseur caractéristique du profil et de son paramètre de dissymétrie.

Mots clés: reflectometry; surface structure; diffuse interfaces; reflectivity; sigmoidal refraction index profile; reflectivity coefficients; centrosymmetric profiles; Fresnel reflectivity coefficient; Fourier transform; refractive index profile; thickness; dissymmetry coefficient

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P. Schaaf, Ph. Dejardin, Anne Schmitt. Réflectométrie appliquée aux interfaces diffuses : possibilités et limites de la technique. Revue de Physique Appliquée, 1985, 20 (9), pp.631-640. ⟨10.1051/rphysap:01985002009063100⟩. ⟨jpa-00245378⟩