Article Dans Une Revue
TAG Theoretical and Applied Genetics
Année : 1988
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https://hal.inrae.fr/hal-02723051
Soumis le : lundi 1 juin 2020-23:45:52
Dernière modification le : mardi 12 mars 2024-10:46:52
Citer
S. Im, Daniel Gianola, . Station de Biometrie Et d'Intelligence Artificielle. Offspring - parent regression for a binary trait. TAG Theoretical and Applied Genetics, 1988, 75, pp.720-722. ⟨hal-02723051⟩
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