Assessment of Polarity in GaN Self-Assembled Nanowires by Electrical Force Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nano Letters Année : 2015
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Dates et versions

hal-02016574 , version 1 (12-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02016574 , version 1

Citer

A. Minj, A. Cros, N. Garro, J. Colchero, T. Auzelle, et al.. Assessment of Polarity in GaN Self-Assembled Nanowires by Electrical Force Microscopy. Nano Letters, 2015, 15 (10), pp.6770-6776. ⟨hal-02016574⟩
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