Article Dans Une Revue
SIAM Journal on Imaging Sciences
Année : 2018
Frédérique Le Louër : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01985328
Soumis le : jeudi 17 janvier 2019-19:26:19
Dernière modification le : lundi 22 avril 2024-15:42:59
Citer
Frédérique Le Louër, Maria-Luisa Rapun. Topological Sensitivity for Solving Inverse Multiple Scattering Problems in Three-Dimensional Electromagnetism. Part II: Iterative Method. SIAM Journal on Imaging Sciences, 2018, 11 (1), pp.734-769. ⟨10.1137/17M1148359⟩. ⟨hal-01985328⟩
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