Article Dans Une Revue
SIAM Journal on Imaging Sciences
Année : 2017
Frédérique Le Louër : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01985317
Soumis le : jeudi 17 janvier 2019-19:15:16
Dernière modification le : lundi 8 avril 2024-15:50:05
Citer
Frédérique Le Louër, Maria-Luisa Rapun. Topological Sensitivity for Solving Inverse Multiple Scattering Problems in Three-dimensional Electromagnetism. Part I: One Step Method. SIAM Journal on Imaging Sciences, 2017, 10 (3), pp.1291-1321. ⟨10.1137/17M1113850⟩. ⟨hal-01985317⟩
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