Diagnosticabilité des Systèmes à Évènements Discrets: Une Nouvelle Variante de l'Approche Diagnostiqueur
Résumé
Dans ce papier, nous nous intéressons à l'analyse de la diagnosticabilité des systèmes à évènements discrets modélisés par des automates à états finis. En particulier, une variante de l'approche diagnostiqueur initiée par Sampath et co. [1, 2] est présentée. Cette variante repose sur une nouvelle structure qui consiste à séparer explicitement les états normaux de ceux fautifs à l'intérieur de chaque noeud du diagnostiqueur. Une telle distinction permet de suivre séparément l'évolution des traces normales et fautives dans le diagnostiqueur. Différentes caractéristiques de la nouvelle structure sont ensuite exploitées pour (i) raffiner la condition nécessaire et suffisante de la diagnosticabilité [1], (ii) développer une nouvelle condition nécessaire vérifiable directement sur le diagnostiqueur sans revenir au modèle, (iii) proposer une version simplifiée de la condition nécessaire et suffisante, et enfin (iv ) développer une procédure systématique pour l'analyse de la diagnosticabilité basée sur un algorithme de vérification à la volée. L'évaluation de cette approche est faite à travers une série d'expérimentations et de comparaisons avec des approches classiques de référence
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
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