Effect of fixed dielectric charges on tunnelling transparency in MIM and MIS structures
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Microelectronic Engineering
Année : 2004
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https://hal.science/hal-01633148
Soumis le : samedi 11 novembre 2017-15:50:58
Dernière modification le : mardi 23 juillet 2019-11:16:04
Citer
S. Bernardini, P. Masson, M. Houssa. Effect of fixed dielectric charges on tunnelling transparency in MIM and MIS structures. Microelectronic Engineering, 2004, 72 (1-4), pp.90-95. ⟨10.1016/j.mee.2003.12.022⟩. ⟨hal-01633148⟩
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