An approach to compute EDC and DYD for test-day models - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2010

An approach to compute EDC and DYD for test-day models

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Dates et versions

hal-01193766 , version 1 (03-06-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01193766 , version 1
  • PRODINRA : 189881

Citer

H. Täubert, Z. Liu, J. Tarrès, Vincent Ducrocq. An approach to compute EDC and DYD for test-day models. 9. World Congress on Genetics Applied to Livestock Production, Aug 2010, Leipzig, Germany. pp.communication 231, 2010, Proceedings of the 9th WCGALP. ⟨hal-01193766⟩
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