Sensitivity to temperature of epidemiological processes at leaf scale, a preliminary step towards FSPMs of sick wheat
Résumé
absent
Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
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https://hal.science/hal-01192321
Soumis le : mercredi 2 septembre 2015-20:26:02
Dernière modification le : mardi 10 octobre 2023-16:38:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01192321 , version 1
- DOI : 10.1109/PMA.2009.70
- PRODINRA : 168148
Citer
Michaël Chelle, Sheng Liu, Amélie Mathieu, Bertrand Ney. Sensitivity to temperature of epidemiological processes at leaf scale, a preliminary step towards FSPMs of sick wheat. PMA 2009 3rd International Symposium on Plant Growth Modeling, Simulation, Visualization and Applications, Saisissez le nom du laboratoire, du service ou du département., Ville service., Nov 2009, Beijing, China. 454 p., ⟨10.1109/PMA.2009.70⟩. ⟨hal-01192321⟩
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