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Communication Dans Un Congrès Année : 2012

An extended LLRP model for RFID system test and diagnosis

Rafik Kheddam
  • Fonction : Auteur correspondant
Oum-El-Kheir Aktouf
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes
CV
Ioannis Parissis
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes

Domaines

Calcul parallèle, distribué et partagé [cs.DC]

Oum-El-Kheir Aktouf  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00676582

Soumis le : lundi 5 mars 2012-16:24:56

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:50:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00676582 , version 1 (05-03-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00676582 , version 1

Citer

Rafik Kheddam, Oum-El-Kheir Aktouf, Ioannis Parissis. An extended LLRP model for RFID system test and diagnosis. The 8th Workshop on Advances in Model Based Testing, Apr 2012, Quebec, Canada. pp.10. ⟨hal-00676582⟩

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