Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan

Abstract : The paper describes a susceptibility characterization test for integrated circuits using a miniature magnetic near field probe. The method is efficient up to a frequency of 6 GHz and maps immunity to radiated fields.
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Electronics Letters, IET, 2007, 43 (1), pp.15. 〈10.1049〉
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Contributeur : Alexandre Boyer <>
Soumis le : lundi 13 février 2012 - 17:59:15
Dernière modification le : mardi 21 février 2012 - 10:16:53
Document(s) archivé(s) le : lundi 14 mai 2012 - 02:55:57

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  • HAL Id : hal-00669747, version 1
  • DOI : 10.1049

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Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard. Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan. Electronics Letters, IET, 2007, 43 (1), pp.15. 〈10.1049〉. 〈hal-00669747〉

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