Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Noluenn Chauvin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00600530
Soumis le : mercredi 15 juin 2011-10:01:09
Dernière modification le : lundi 11 octobre 2021-14:22:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00600530 , version 1
Citer
Philippe Rogeon, B. Leclercq, D. Carron. Etude du vieillissement des électrodes de cuivre lors du soudage par résistance par point. Journée PPF "Couplage multi physique à haute température", Mar 2009, Saint Etienne, France. ⟨hal-00600530⟩
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