Communication Dans Un Congrès
Année : 2002
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https://hal.science/hal-00261719
Soumis le : dimanche 9 mars 2008-09:01:01
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:36:55
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00261719 , version 1
Citer
C. Aktouf, B. Pannetier, P. Lemaitre-Auger, S. Tedjini. On-line Testing of Embedded Systems Using Optical Probes:system modeling and probing technology. 8th IEEE International On-Line Testing Workshop, Jul 2002, Isle of Bendor, France. pp.191-200. ⟨hal-00261719⟩
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