Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00181691
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-11:48:40
Dernière modification le : mardi 26 mars 2024-17:44:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181691 , version 1
Citer
L. Shi, G. Lorito, Sebastien Fregonese, Vladimir Jovanovic, L. K. Nanver. JFET test structures for monitoring strain-enhanced mobility. SAFE 2006, Nov 2006, Netherlands. ⟨hal-00181691⟩
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