Recherche - Laboratoire Jean Kuntzmann

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		A gate level methodology for efficient statistical leakage estimation in complex 32nm circuits Smriti Joshi , Anne Lombardot , Marc Belleville , Edith Beigné , Stéphane Girard DATE 2013 - Design, Automation and Test in Europe, Mar 2013, Grenoble, France. pp.1056-1057, ⟨10.7873/DATE.2013.221⟩ Communication dans un congrès hal-00805478v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Statistical leakage estimation in 32nm CMOS considering cells correlations Smriti Joshi , Anne Lombardot , Marc Belleville , Edith Beigné , Stéphane Girard FTFC - 11th IEEE conference on Faible Tension Faible Consommation, Jun 2012, Paris, France. pp.1-4, ⟨10.1109/FTFC.2012.6231721⟩ Communication dans un congrès hal-00803441v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Statistical estimation of dominant physical parameters for leakage variability in 32nanometer CMOS under supply voltage variations Smriti Joshi , Anne Lombardot , Philippe Flatresse , Carmelo d'Agostino , Andre Juge , et al. Journal of Low Power Electronics, 2012, 8 (1), pp.113-124. ⟨10.1166/jolpe.2012.1166⟩ Article dans une revue hal-00846806v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More

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