Twin-scale Vernier Micro-Pattern for Visual Measurement of 1D in-plane Absolute Displacements with Increased Range-to-Resolution Ratio. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Twin-scale Vernier Micro-Pattern for Visual Measurement of 1D in-plane Absolute Displacements with Increased Range-to-Resolution Ratio.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Azema  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00802300

Soumis le : mardi 19 mars 2013-15:11:07

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-16:33:41

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00802300 , version 1 (19-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00802300 , version 1

Citer

July Galeano Zea, Patrick Sandoz, Guillaume J. Laurent, Lucas Lopes Lemos, Cédric Clévy. Twin-scale Vernier Micro-Pattern for Visual Measurement of 1D in-plane Absolute Displacements with Increased Range-to-Resolution Ratio.. IEEE International Symposium on OptoMechatronic Technologies., Oct 2012, Paris, France. pp.1-7. ⟨hal-00802300⟩

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