A new optical low coherence reflectometry device for ocular biometry in cataract patients - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue British Journal of Ophthalmology Année : 2009

A new optical low coherence reflectometry device for ocular biometry in cataract patients

Résumé

A new commercially available optical low coherence reflectometry device (, Haag-Streit or , Wavelight) provides high-resolution non-contact measurements of ocular biometry. The study evaluates the validity and repeatability of these measurements compared to current clinical instrumentation.
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Dates et versions

hal-00477845 , version 1 (30-04-2010)

Identifiants

Citer

Phillip Jonathan Buckhurst, James Stuart Wolffsohn, Sunil Shah, Shehzad Anjam Naroo, Leon Nicholas Davies, et al.. A new optical low coherence reflectometry device for ocular biometry in cataract patients. British Journal of Ophthalmology, 2009, 93 (7), pp.949-n/a. ⟨10.1136/bjo.2008.156554⟩. ⟨hal-00477845⟩

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