HAL : hal-00425366, version 1

DOI : 10.1088/1742-6596/163/1/012111

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Journal of Physics : Conferences Series 163 (2009) 012111

X-ray spectroscopy characterization of Ar17+ produced by an ECRIS in the afterglow mode

Christophe Prigent 1, E. Lamour 1, Laurent Maunoury 2, Fabien Noury 2, Jean-Yves Pacquet 3, Jean Marc Ramillon 3, J. -P. Rozet 1, D. Vernhet 1, Martino Trassinelli 1

(10/06/2009)

An electron–cyclotron–resonance ion source (ECRIS) operating in the afterglow mode allows to produce pulsed highly charged ion beams. We present a characterization of the first production of pulsed Ar17+ ions from an ECRIS using X-ray spectroscopy techniques. An ion current increase of a factor 3-4 compared to the continuous operating mode with a short rise time (< 100 µs) and a full width at half maximum of 500 µs has been obtained.

1 :	Institut des Nanosciences de Paris (INSP)
	CNRS : UMR7588 – Université Paris VI - Pierre et Marie Curie
2 :	Centre Interdisciplinaire de Recherche Ions Lasers (CIRIL (GANIL))
	CNRS : UMR6637 – Université de Caen – Ecole Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen – CEA : DSM/IRAMIS
3 :	Grand Accélérateur National d'Ions Lourds (GANIL)
	CNRS : UPR3266 – IN2P3 – CEA : DSM/GANIL

Domaine

:

Physique/Physique/Physique Atomique

hal-00425366, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00425366

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00425366

Contributeur : Christophe Prigent <>

Soumis le : Mercredi 21 Octobre 2009, 09:59:51

Dernière modification le : Mercredi 21 Octobre 2009, 10:04:42