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	hal-00685918v1 Communication dans un congrès M'Hammed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere, Soidri Bastoini. Computation of Wafer-At-Risk from Theory to Real Life Demonstration Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Nov 2010, Rousset, France
	hal-00685926v1 Communication dans un congrès M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere. Smart sampling for risk reduction and delay optimisation 2012 IEEE International Systems Conference, Mar 2012, vancouver, Canada. pp.1-6, 2012
	hal-00676970v1 Article dans une revue M'Hammed Sahnoun, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere, Philippe Vialletelle, Soidri Bastoini. Optimisation of the process control in a semiconductor company: model and case study of defectivity sampling International Journal of Production Research, Taylor & Francis, 2011, Vol. 49 (No. 13), pp.3873-3890. <10.1080/00207543.2010.484429>
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