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	hal-00861667v1 Article dans une revue Sylvie Pommier, Stéphane Lefebvre, Sylvain Pietranico, Mounira Berkani, Zoubir Khatir et al. Effect of die metallization layer ageing in the case of power semiconductor devices European Journal of Electrical Engineering, Lavoisier, 2011, 14 (5), pp.569-585. <10.3166/Geo.19.11-38>
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