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	emse-01109131v1 Communication dans un congrès Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Assia Tria. Power supply glitch induced faults on FPGA: an in-depth analysis of the injection mechanism On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2013 IEEE 19th International, Jul 2013, Chania, Greece. <10.1109/IOLTS.2013.6604060>
	cea-01094758v1 Communication dans un congrès Bruno Robisson, Hélène Le Bouder. Physical functions : the common factor of side-channel and fault attacks ? PROOFS: Security Proofs for Embedded Systems, Sep 2014, Busan, South Korea. 2014
	emse-01233325v1 Autre publication Bruno Robisson, Hélène Le Bouder. Physical functions: the common factor of side-channel and fault attacks? Technical report. 2014, <10.1007/s13389-015-0111-4>
	emse-01099010v1 Communication dans un congrès Loic Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clediere, Bruno Robisson. Analysis of the fault injection mechanism related to negative and positive power supply glitches using an on-chip voltmeter IEEE Int. Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), May 2014, Arlington, France. <10.1109/HST.2014.6855583>
	lirmm-01096015v1 Article dans une revue Lionel Vincent, Edith Beigné, Suzanne Lesecq, Julien Mottin, David Coriat et al. Dynamic Variability Monitoring Using Statistical Tests for Energy Efficient Adaptive Architectures IEEE Transactions on Circuits and Systems Part 1 Fundamental Theory and Applications, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014, Part I: Regular Papers, 61 (6), pp.1741-1754. <10.1109/TCSI.2013.2290850>
	emse-01233314v1 Article dans une revue Bruno Robisson, Hélène Le Bouder. Physical functions: the common factor of side-channel and fault attacks? Journal of Cryptographic Engineering, Springer, 2015, <10.1007/s13389-015-0111-4>
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