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	hal-00327161v1 Article dans une revue A. Al Bayaz, A. Giani, A. Foucaran, F. Pascal-Delannoy, Alexandre Boyer. Electrical and thermoelectrical properties of Bi2Se3 grown by metal organic chemical vapour deposition technique Thin Solid Films, Elsevier, 2003, 441 (1-2), pp.1-5
	hal-01500303v1 Communication dans un congrès Chaimae Ghfiri, Alexandre Boyer, Andre Durier, Sonia Ben Dhia. Methodology of modeling of the internal activity of a FPGA for conducted emission prediction purpose Congrès de l'école doctorale GEET, Mar 2017, Toulouse, France. 6p., 2017
	hal-00669726v1 Communication dans un congrès Binhong Li, Nestor Berbel, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Raul Fernandez-Garcia. Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Oct 2011, Bordeaux, France. pp.1557, 2011
	hal-01225358v1 Communication dans un congrès Veljko Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia. Bandgap Failure Study Due To Parasitic Bipolar Substrate Coupling In Smart Power Mixed ICs 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2015), Nov 2015, Edimburgh, United Kingdom. Proceedings of EMC Compo 2015, 5p
	hal-01225345v1 Communication dans un congrès Veljko Tomasevic, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Alexander Steinmar, Weiss B. et al. Coupling study in smart power mixed ICs with a dedicated on-chip sensor EMC Europe 2015, Aug 2015, Dresden, Germany. Proceedings of EMC Europe 2015, 2015, <10.1109/ISEMC.2015.7256236>
	hal-01017384v1 Communication dans un congrès Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer. Design of on-chip sensors to monitor electromagnetic activity in ICs: Towards on-line diagnosis and self-healing Test Workshop - LATW, 2014 15th Latin American, Mar 2014, Fortaleza, Brazil. pp.1-6, 2014
	hal-00945301v1 Communication dans un congrès Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia. Characterization and modeling of electrical stresses on digital integrated circuits power integrity and conducted emission 2013 9th Intl Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2013), Dec 2013, Nara, Japan. pp.190-195, 2013, <10.1109/EMCCompo.2013.6735199>
	hal-00938358v1 Article dans une revue Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia. Effect of Aging on Power Integrity and Conducted Emission of Digital Integrated Circuits Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2014, 10 (1), pp.165-172
	hal-00936080v1 Article dans une revue Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand Vrignon, Mikael Deobarro. IC immunity modeling process validation using on-chip measurements Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (3), pp.339-348. <10.1007/s10836-012-5294-3>
	hal-00669511v1 Article dans une revue Nestor Berbel, Raul Fernandez-Garcia, Ignacio Gil, Binhong Li, Alexandre Boyer et al. Experimental verification of the usefulness of the nth power law MOSFET model under hot carrier wearout Microelectronics Reliability, Elsevier, 2011, 51 (9), pp.1564. <10.1016>
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