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	hal-00713076v1 Communication dans un congrès Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre, Othman Dhouha, Moumen Sabrine, Zoubir Khatir et al. Failure modes and robustness of SiC JFET transistors under current limiting operations Power Electronics and Applications (EPE 2011),, Aug 2011, Birmingham, United Kingdom. pp.1-10, 2011
	hal-00713206v1 Article dans une revue Vanessa Smet, François Forest, Jean-Jacques Huselstein, Frédéric Richardeau, Zoubir Khatir et al. Ageing and Failure Modes of IGBT Modules in High Temperature Power Cycling IEEE Transactions on Industrial Electronics, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, 58 (10), pp.4931 - 4941. <10.1109/TIE.2011.2114313>
	hal-00876950v1 Article dans une revue Gilles Rostaing, Mounira Bouarroudj-Berkani, Stéphane Lefebvre, Zoubir Khatir, Philippe Dupuy. Reliability of power MOSFET-based smart switches under normal and extreme conditions for 24 V battery system applications Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (9-11), pp.1703-1706
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