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	hal-01393474v1 Communication dans un congrès Zhao Li, François Tavernier, Arnaud Bréard, Laurent Krähenbühl, Damien Voyer. Error analysis for near-field EMC problems based on multipolar expansion approach CEFC, Nov 2016, Miami, United States. pp.CD, Proc. of the 17th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation
	hal-01393476v1 Communication dans un congrès François Tavernier, Zhao Li, Arnaud Bréard, Laurent Krähenbühl, Damien Voyer. Comparison of the near field coupling using spherical and spheroidal harmonics CEFC, Nov 2016, Miami, United States. pp.CD, Proc. of the 17th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation
	hal-01174988v1 Communication dans un congrès Arnaud Bréard, François Tavernier, Zhao Li, Laurent Krähenbühl. New Measurement System of Magnetic Near-field with Multipolar Expansion Approach Compumag, Jun 2015, Montréal, Canada. pp.621, 2015, Proceedings of the 20th International Conference on the Computation of Electromagnetic Fields
	hal-01322299v1 Article dans une revue Arnaud Bréard, François Tavernier, Zhao Li, Laurent Krähenbühl. New Measurement System of Magnetic Near-Field With Multipolar Expansion Approach IEEE Transactions on Magnetics, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2016, 52 (3), <10.1109/TMAG.2015.2501024>
	hal-01432166v1 Article dans une revue Arnaud Bréard, Olivier Chadebec, Laurent Krähenbühl, Carlos A. F. Sartori, Christian Vollaire et al. Overview on the Evolution of Near Magnetic Field Coupling Prediction Using Equivalent Multipole Spherical Harmonic Sources IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, 59 (2), pp.584-592. <http://ieeexplore.ieee.org>. <10.1109/TEMC.2016.2638960>
	hal-01496540v1 Article dans une revue Zhao Li, Francois Tavernier, Arnaud Breard, Laurent Krähenbühl, Damien Voyer et al. Error analysis for near-field EMC problems based on multipolar expansion approach IEEE Transactions on Magnetics, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, 53 (6), pp.1 - 4. <http://ieeexplore.ieee.org/document/7843677>. <10.1109/TMAG.2017.2664985>
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