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	lirmm-00805123v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch et al. Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs ATS: Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. 20th IEEE Asian Test Symposium, pp.459-460, 2011, <http://www.ecs.umass.edu/ece/ats11/>. <10.1109/ATS.2011.97>
	lirmm-01248599v1 Communication dans un congrès Anu Asokan, Aida Todri-Sanial, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard et al. Path delay test in the presence of multi-aggressor crosstalk, power supply noise and ground bounce DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2014, Warsaw, Poland. IEEE, Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 17th International Symposium on, pp.207-212, 2014, <10.1109/DDECS.2014.6868791>
	lirmm-01354746v1 Article dans une revue Imran Wali, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch et al. A Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Highly Reliable Processing Cores Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2016, 32 (2), pp.147-161. <10.1007/s10836-016-5578-0>
	lirmm-00134766v1 Article dans une revue Christian Landrault, Yannick Bonhomme, Arnaud Virazel, Patrick Girard, Lois Guiller et al. A Gated Clock Scheme for Low Power Testing of Logic Cores Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2006, 22 (1), pp.89-99
	lirmm-00331296v1 Article dans une revue Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel et al. A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. <10.1007/s10836-007-5053-z>
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