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	lirmm-01248597v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. A Comprehensive Evaluation of Functional Programs for Power-Aware Test NATW: North Atlantic Test Workshop, May 2014, Johnson City, NY, United States. IEEE, Test Workshop (NATW), 2014 IEEE 23rd North Atlantic, pp.69-72, 2014, <10.1109/NATW.2014.23>
	lirmm-01446917v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Paolo Bernardi et al. Improving the Functional Test Delay Fault Coverage: A Microprocessor Case Study ISVLSI: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Jul 2016, Pittsburgh, PA, United States. IEEE, VLSI (ISVLSI), 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on, pp.731-736, 2016, <10.1109/ISVLSI.2016.42 >
	lirmm-00805389v1 Communication dans un congrès Paolo Bernardi, Mauricio De Carvalho, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Alberto Bosio et al. Peak Power Estimation: A Case Study on CPU Cores IEEE Asian Test Symposium, Nov 2012, Niigata, Japan. IEEE, pp.167-172, 2012, <http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/~ats12/>. <10.1109/ATS.2012.58>
	lirmm-01457396v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Paolo Bernardi et al. An effective approach for functional test programs compaction DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2016, Kosice, Slovakia. IEEE, 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2016, <http://ddecs2016.fiit.stuba.sk/DDECS_2016/>. <10.1109/DDECS.2016.7482466>
	lirmm-01272937v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel et al. Exploring the impact of functional test programs re-used for power-aware testing DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2015, Grenoble, France. pp.1277-1280, 2015
	lirmm-00934937v1 Article dans une revue Paolo Bernardi, Mauricio De Carvalho, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Alberto Bosio et al. Fast Power Evaluation for Effective Generation of Test Programs Maximizing Peak Power Consumption Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2013, 9 (2), pp.253-263. <10.1166/jolpe.2013.1259>
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