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	lirmm-00805140v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. Test Solution for Data Retention Faults in Low-Power SRAMs EDA Association. DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2013, Grenoble, France. Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, pp.442-447, 2013, <http://www.date-conference.com/>. <10.7873/DATE.2013.099>
	lirmm-00805143v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. Low-power SRAMs Power Mode Control Logic: Failure Analysis and Test Solutions ITC'2012: International Test Conference, Nov 2012, Anaheim, CA, United States. IEEE, pp.1-10, 2012, <http://www.itctestweek.org/>. <10.1109/TEST.2012.6401578>
	lirmm-00818977v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. On the Reuse of Read and Write Assist Circuits to Improve Test Efficiency in Low-Power SRAMs ITC: International Test conference, Sep 2013, Anaheim, CA, United States. pp.1-10, 2013, <http://www.itctestweek.org/>. <10.1109/TEST.2013.6651927>
	tel-00091300v2 Thèse Nabil Badereddine. REDUCTION DE PUISSANCE DURANT LE TEST PAR SCAN DES CIRCUITS INTEGRES Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc, 2006. Français
	lirmm-00805123v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch et al. Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs ATS: Asian Test Symposium, Nov 2011, New Delhi, India. 20th IEEE Asian Test Symposium, pp.459-460, 2011, <http://www.ecs.umass.edu/ece/ats11/>. <10.1109/ATS.2011.97>
	lirmm-00805366v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. A Built-in Scheme for Testing and Repairing Voltage Regulators of Low-Power SRAMs VTS: VLSI Test Symposium, Apr 2013, Berkeley, CA, United States. pp.1-6, 2013, VLSI Test Symposium (VTS), 2013 IEEE 31st. <http://www.tttc-vts.org/public_html/new/2013/index.php>. <10.1109/VTS.2013.6548894>
	lirmm-00805374v1 Communication dans un congrès Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial et al. Defect Analysis in Power Mode Control Logic of Low-Power SRAMs ETS: European Test symposium, May 2012, Annecy, France. 17th IEEE European Test Symposium, 2012, <http://ets2012.imag.fr/>. <10.1109/ETS.2012.6233033>
	lirmm-01238443v1 Article dans une revue Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel et al. On the Test and Mitigation of Malfunctions in Low-Power SRAMs Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2014, 30 (5), pp.611-627. <http://link.springer.com/article/10.1007%2Fs10836-014-5479-z>. <10.1007/s10836-014-5479-z>
	lirmm-00331296v1 Article dans une revue Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel et al. A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. <10.1007/s10836-007-5053-z>
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