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	lirmm-01446917v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Paolo Bernardi et al. Improving the Functional Test Delay Fault Coverage: A Microprocessor Case Study ISVLSI: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Jul 2016, Pittsburgh, PA, United States. IEEE, VLSI (ISVLSI), 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on, pp.731-736, 2016, <10.1109/ISVLSI.2016.42 >
	lirmm-00805389v1 Communication dans un congrès Paolo Bernardi, Mauricio De Carvalho, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Alberto Bosio et al. Peak Power Estimation: A Case Study on CPU Cores IEEE Asian Test Symposium, Nov 2012, Niigata, Japan. IEEE, pp.167-172, 2012, <http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/~ats12/>. <10.1109/ATS.2012.58>
	lirmm-01457396v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel, Paolo Bernardi et al. An effective approach for functional test programs compaction DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2016, Kosice, Slovakia. IEEE, 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, 2016, <http://ddecs2016.fiit.stuba.sk/DDECS_2016/>. <10.1109/DDECS.2016.7482466>
	hal-01444734v1 Communication dans un congrès Imran Wali, Bastien Deveautour, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard et al. A Low-Cost Reliability vs. Cost Trade-Off Methodology to Selectively Harden Logic Circuits ETS: European Test Symposium, May 2016, Amsterdam, Netherlands. 21th IEEE European Test Symposium, 2016, <http://www.ets16.nl/>. <10.1007/s10836-017-5640-6>
	lirmm-01272937v1 Communication dans un congrès Aymen Touati, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Arnaud Virazel et al. Exploring the impact of functional test programs re-used for power-aware testing DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2015, Grenoble, France. pp.1277-1280, 2015
	lirmm-01272735v1 Communication dans un congrès Imran Wali, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard, Matteo Sonza Reorda. Design space exploration and optimization of a Hybrid Fault-Tolerant Architecture IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2015, Halkidiki, Greece. On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2015 IEEE 21st International, pp.89-94, 2015, <http://tima.imag.fr/conferences/iolts/iolts15/>. <10.1109/IOLTS.2015.7229838>
	lirmm-00934937v1 Article dans une revue Paolo Bernardi, Mauricio De Carvalho, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Alberto Bosio et al. Fast Power Evaluation for Effective Generation of Test Programs Maximizing Peak Power Consumption Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2013, 9 (2), pp.253-263. <10.1166/jolpe.2013.1259>
	lirmm-01354746v1 Article dans une revue Imran Wali, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch et al. A Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Highly Reliable Processing Cores Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2016, 32 (2), pp.147-161. <10.1007/s10836-016-5578-0>
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