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	hal-01067989v1 Communication dans un congrès Lionel Vincent, Edith Beigne, Laurent Alacoque, Suzanne Lesecq, Catherine Bour et al. A Fully Integrated 32 nm MultiProbe for Dynamic PVT Measurements within Complex Digital SoC VARI: International Workshop on CMOS Variability, May 2011, Grenoble, France. 2011, 2nd International Workshop on CMOS Variability
	hal-01067982v1 Communication dans un congrès Lionel Vincent, Philippe Maurine, Edith Beigne, Suzanne Lesecq, Julien Mottin. Temperature and Fast Voltage On-Chip Monitoring using Low-Cost Digital Sensors VARI: Workshop on CMOS Variability, Sep 2013, Karlsruhe, Germany. 2013, 4th International Workshop on CMOS Variability
	lirmm-01421006v1 Communication dans un congrès Yeter Akgul, Diego Puschini, Suzanne Lesecq, Edith Beigne, Pascal Benoit et al. Methodology for Power Mode selection in FD-SOI circuits with DVFS and Dynamic Body Biasing PATMOS: Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation, Sep 2013, Karlsruhe, Germany. 23rd International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation, pp.199-206, 2013, <10.1109/PATMOS.2013.6662174>
	hal-01423144v1 Article dans une revue Florent Berthier, Edith Beigne, Frédéric Heitzmann, Olivier Debicki, Jean-Frédéric Christmann et al. UTBB FDSOI suitability for IoT applications: Investigations at device, design and architectural levels Solid-State Electronics, Elsevier, 2016, 125, pp.14 - 24. <10.1016/j.sse.2016.09.003>
	hal-00846806v1 Article dans une revue Smriti Joshi, Anne Lombardot, Philippe Flatresse, Carmelo D'Agostino, Andre Juge et al. Statistical estimation of dominant physical parameters for leakage variability in 32nanometer CMOS under supply voltage variations Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2012, 8 (1), pp.113-124. <10.1166/jolpe.2012.1166>
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