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hal-00413349v1  Communication dans un congrès
Cyril ButtayDominique PlansonBruno AllardDominique BergognePascal Bevilacqua et al.  State of the art of High Temperature Power Electronics
Microtherm, Jun 2009, Lodz, Poland. pp.8-17, 2009
hal-01154140v1  Article dans une revue
Rémy OuaidaMaxime BerthouJavier LeónXavier PerpiñàSebastien Oge et al.  Gate Oxide Degradation of SiC MOSFET in Switching Conditions
IEEE Electron Device Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 35 (12), pp.1284 - 1286. <10.1109/LED.2014.2361674>
hal-00597432v1  Article dans une revue
Cyril ButtayDominique PlansonBruno AllardDominique BergognePascal Bevilacqua et al.  State of the art of high temperature power electronics
Materials Science and Engineering: B, Elsevier, 2011, 176 (4), pp.283-288. <10.1016/j.mseb.2010.10.003>