Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis - Archive ouverte HAL

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Poster De Conférence Année : 2013

Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis

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Zhenzhou Sun

Fonction : Auteur

STMicroelectronics [Grenoble]

Alberto Bosio

Fonction : Auteur
PersonId : 172965
IdHAL : alberto-bosio
ORCID : 0000-0001-6116-7339
IdRef : 174383592

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Luigi Dilillo

Fonction : Auteur
PersonId : 172470
IdHAL : luigi-dilillo
ORCID : 0000-0002-1295-2688
IdRef : 18891885X

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Aida Todri-Sanial

Fonction : Auteur
PersonId : 6348
IdHAL : todri
ORCID : 0000-0001-8573-2910
IdRef : 235598879

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Etienne Auvray

Fonction : Auteur

STMicroelectronics [Grenoble]

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00839113

Soumis le : jeudi 27 juin 2013-11:13:53

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Dates et versions

lirmm-00839113 , version 1 (27-06-2013)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00839113 , version 1

Citer

Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, et al.. Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis. Colloque GDR SoC-SiP, Jun 2013, Lyon, France. 2013. ⟨lirmm-00839113⟩

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