Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00806859 , version 1 (02-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806859 , version 1

Citer

Miroslav Valka, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, et al.. Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. ⟨lirmm-00806859⟩
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