Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture

Ahn Duc Tran (1) , Arnaud Virazel (2) , Alberto Bosio (2) , Luigi Dilillo (2) , Patrick Girard (2) , Serge Pravossoudovitch (2) , Hans-Joachim Wunderlich (3)

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
3 ITI - Institut für Technische Informatik

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture. JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France. ⟨lirmm-00679509⟩