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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553592

Soumis le : vendredi 7 janvier 2011-16:11:37

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553592 , version 1 (07-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553592 , version 1

Citer

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell. DELTA'10: International Symposium on Electronic Design, Test & Applications, Ho Chi Minh, Vietnam. pp.265-270. ⟨lirmm-00553592⟩

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