Using TMR Architectures for SoC Yield Improvement - Archive ouverte HAL

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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Using TMR Architectures for SoC Yield Improvement

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Julien Vial

Fonction : Auteur
PersonId : 845062

Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Alberto Bosio

Fonction : Auteur
PersonId : 172965
IdHAL : alberto-bosio
ORCID : 0000-0001-6116-7339
IdRef : 174383592

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Luigi Dilillo

Fonction : Auteur
PersonId : 172470
IdHAL : luigi-dilillo
ORCID : 0000-0002-1295-2688
IdRef : 18891885X

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Pravossoudovitch

Fonction : Auteur
PersonId : 938342

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lionel Torres : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406967

Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-17:26:06

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

lirmm-00406967 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00406967 , version 1

Citer

Julien Vial, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Using TMR Architectures for SoC Yield Improvement. VALID'09: The First International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, 2009, Porto, Portugal. pp.155-160. ⟨lirmm-00406967⟩

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