Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Archive ouverte HAL

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Ouvrages Année : 2009

Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

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Alberto Bosio

Fonction : Auteur
PersonId : 172965
IdHAL : alberto-bosio
ORCID : 0000-0001-6116-7339
IdRef : 174383592

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Luigi Dilillo

Fonction : Auteur
PersonId : 172470
IdHAL : luigi-dilillo
ORCID : 0000-0002-1295-2688
IdRef : 18891885X

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Pravossoudovitch

Fonction : Auteur
PersonId : 938342

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371359

Soumis le : vendredi 27 mars 2009-15:28:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Dates et versions

lirmm-00371359 , version 1 (27-03-2009)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00371359 , version 1

Citer

Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. Springer, 171 p., 2009, 978-1-4419-0937-4. ⟨lirmm-00371359⟩

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